為了高效、經濟地開展清潔度分析，所有參與生產的各方（通常是零部件供應商和產品制造商）都必須根據產品的要求，預先就產品規(guī)格達成一致。各方必須明確標準要求，比如有可能造成損害的顆粒特性，要遵循哪些標準和規(guī)范，以及記錄結果的最佳方式等[2]。
自動化進行顆粒分析有助于實現高效的清潔過程。光學顯微鏡是一種被廣泛應用的標準方法，可以快速自動分析提取的顆粒，確定它們的數量、大小和其他具體屬性[2,6,7]。通過其他技術（如粒子計數或掃描電子顯微鏡）獲得的結果不能與光學顯微鏡的結果相較，因為兩者采用的是不同的檢測方法[6,7]。

根據顆粒的尺寸（長、寬、高）和材料特性，可以將其分為多種類別。一般來說，由碳化物、金屬或陶瓷組成的顆粒都質地堅硬，可以研磨，比如剛玉（氧化鋁）就屬于這類材料；而由塑料和其他有機材料組成的顆粒則質地柔軟，研磨性欠佳。金屬和半導體陶瓷顆粒還具有導電性，因此，它們損壞電子元件的可能性很大。
就元件造成損害的風險而言，對于汽車工業(yè)來說，較高的硬質顆粒（如碳化物、金屬、陶瓷等）比長而軟的塑料纖維更容易造成損害，因為它們的研磨性和磨蝕性更高。對于電子工業(yè)來說，金屬顆粒的導電性最高，尺寸超過200μm的顆粒[3]最容易導致電路板短路。

制造商和用戶可以利用標準化方法和手段獲得可靠、可重復、可比較的清潔度結果。
汽車行業(yè)的主流標準是VDA 19.1[6]和ISO 16232[7]，它們給出了定義和常用參數的范圍，如：用于清潔度分析的顆粒等級的大小和成分，顆粒識別的閾值，圖像設置等。
VDA 19.1標準提到，除光學顯微鏡外，其他方法如SEM、能量色散譜（EDS）和激光誘導擊穿光譜（LIBS）也能可靠、有效地識別顆粒污染的來源[6,8]。LIBS可用于在空氣中用光學顯微鏡直接分析樣品，無需額外花時間制備樣品，也不需要將樣品運送到另一臺儀器上進行分析[6,8]。因此，與SEM/EDS相比，LIBS可以更快地確定顆粒成分，從而更有效地找出污染源[8]。
在電子行業(yè)，清潔度的通用參考標準是ZVEI發(fā)布的一份指南（ZVEI=德國電氣和電子制造商協(xié)會），名為“電氣工程的技術清潔度"[4]。

汽車零部件的清潔工作流程包括5個主要步驟[6,7]：

• 1.清洗/水洗部件；

• 2.通過過濾清潔液來提取顆粒；

• 3.分析過濾器上的顆粒；

• 4.記錄顆粒的尺寸和其他特征；

評估造成損害的潛在風險并確定污染源。

徠卡顯微系統(tǒng)和PALL公司簽訂了合作協(xié)議，致力于幫助終端用戶創(chuàng)建一套理想的整體清潔工作流程[9]。用戶可以同時與徠卡公司的顆粒分析專家和PALL公司的顆粒提取專家互動，以優(yōu)化他們的樣品制備和清潔過程。
部分敏感的電子元件只能在無塵室中生產和清洗，才能避免空氣污染，達到可接受的技術潔凈度水平[3]。而對污染不太敏感的元件，則可以等生產結束后再行清潔[3]。向元件噴灑液體，或用溶液清洗元件，可去除元件表面殘留的顆粒。然后對液體或溶液進行過濾，將過濾器烘干，再對過濾器上的顆粒進行分析。
電子元件的清潔工作流程與汽車零部件非常相似，也是5個主要步驟[3,4]：

• 1.向元件噴灑液體，或用溶液清洗元件；

• 2.通過過濾噴灑的液體或清洗液來提取顆粒；

• 3.分析過濾器上的顆粒；

• 4.記錄顆粒的尺寸和其他特征；

• 5.評估引發(fā)問題的潛在風險。

汽車和電子業(yè)零部件上的顆粒污染物會產生負面影響，可能會降低產品性能或引發(fā)早期故障。對于汽車，發(fā)動機部件或過濾系統(tǒng)是重災區(qū)。對于電子產品來說，印刷電路板（PCB）上的污染物會導致短路。在過去的幾年里，市場對電動汽車（e-mobility）的需求一直在增長。制造電動汽車需要滿足兩個行業(yè)的清潔標準。
顯然，技術清潔對于現代制造工藝的質量控制非常重要。如果生產中需使用多個供應商提供的零部件，那么經濟高效的清潔過程必須始于供應商這一環(huán)。
本文闡明了優(yōu)化清潔度分析和整體工作流程的核心因素。